5.4.4探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。

                   圖3

5.5  耦合劑

   可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。

6  探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

6.1探傷原則上應(yīng)安排在*終處理后進(jìn)行，若因熱處理后鑄件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。

6.2 鑄鋼件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲檢測(cè)的物質(zhì)都應(yīng)予以**。

6.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Rn3.2μm。

7  探傷方法

   工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無(wú)法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測(cè)，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。

7.1  探測(cè)方向

7.1.1 原則上應(yīng)從探測(cè)面上兩相互垂直的方向進(jìn)行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。

7.1.2 主要工件的探測(cè)方向如圖4所示。 

                                     圖4

7.2  掃查

7.2.1應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測(cè)面進(jìn)行**連續(xù)的掃查，相鄰兩次掃查其重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。

7.2.2掃查時(shí)，探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。

7.2.3 因工件幾何形狀所限而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。

7.3  透聲性的測(cè)定

   將縱波直探頭與工件上探測(cè)面和底面平行而且無(wú)缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使**次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使**次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測(cè)量點(diǎn)的透聲性。測(cè)量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。

7.4 探傷靈敏度的確定

7.4.1縱波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整

   首先，將工件與探測(cè)距離等于或*接近該工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值，然后在該試塊上測(cè)試，使其φ4mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%。不改變儀器的參數(shù)，對(duì)探測(cè)距離較小的一系列試塊逐一測(cè)試，測(cè)出其平底孔回波的**點(diǎn)，繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線，也可用A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。

7.4.2 縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整

   測(cè)試一組不同探測(cè)距離的φ4mm平底孔、調(diào)整衰減器，使其中**的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)。對(duì)探測(cè)距離不同的平底孔逐一測(cè)試，將其回波幅度的**點(diǎn)繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線。

7.4.3  補(bǔ)償

7.4.3.1 表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。

7.4.3.2 透聲性補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷當(dāng)量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。

7.4.3.3 曲面補(bǔ)償：對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來(lái)校正，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。

7.4.4探測(cè)靈敏度不得低于**探測(cè)距離處的φ4mm平底孔當(dāng)量。

7.5 探傷靈敏度的復(fù)查

   探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新當(dāng)量。

8  缺陷檢測(cè)

8.1  記錄缺陷

8.1.1 反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。

8.1.2 在探傷靈敏度下，引起工件**次底面回波消失的缺陷。

8.1.3 出現(xiàn)平面型缺陷顯示，并被探傷人員判定為危害性的缺陷。

8.2  缺陷尺寸的測(cè)定

8.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，用6dB法在探傷面上畫(huà)出缺陷的范圍。其在工件厚度方向的尺寸，可由不同方向檢測(cè)所確定的缺陷上部和下部邊界確定。

8.2.2 凡是因存在缺陷，而使底面回波消失者，其邊緣應(yīng)從探測(cè)面上底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波*左側(cè)的波峰位置確定。

8.2.3 當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí)，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測(cè)計(jì)。

8.2.4 單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的**尺寸與其在垂直方向的**尺寸之積計(jì)算。

8.2.5 對(duì)于有疑問(wèn)的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證。

9  缺陷等級(jí)分類

9.1 在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)不允許存在裂紋和縮孔。

9.2 缺陷在工件厚度方向的尺寸不得大于壁厚的1/8。

9.3 缺陷所在截面積指探測(cè)到缺陷部位的*小剖截面積；對(duì)于空心軸工件，其截面積應(yīng)按實(shí)心軸計(jì)算。

9.4 工件的單個(gè)缺陷等級(jí)分類按表3規(guī)定；面積類缺陷等級(jí)分類按表4規(guī)定。

                                    表3                            mm

等   級(jí)	1	2	3	4
缺陷當(dāng)量直徑	＜4	≥4~<5	≥5~<6	≥9