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ZB J04 001-87A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)
日期：2025-04-30 18:02
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摘要：
ZB J04 001-87A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)
中華人民共和國專業(yè)標準 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法 ZB J04001-87
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1適用范圍
1.1 本標準適用于在探傷現場條件下測試超聲探傷系統(tǒng)的工作性能。超聲探傷系統(tǒng)指實際探傷工作中使用的設備，包括A型脈沖反射式超聲探傷儀，超聲探頭及連接它們的高頻電纜。測試時只需使用本標準中規(guī)定的標準試塊而不需任何電子儀器。
1.2 本標準只規(guī)定超聲探傷系統(tǒng)性能的測試方法，但不提出系統(tǒng)的性能指標或其驗收條件。當需要時，供需雙方可事先協(xié)商規(guī)定驗收產品時所使用超聲探傷系統(tǒng)應達到的**性能指標。
1.3 本標準不適用于測試超聲探傷儀或超聲探頭的單件性能。在單獨測試其中某一單件時，可按ZBY230—84《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件》及ZB Y231—84《超聲探傷用探頭性能測試方法》分別進行測試，但必須配備適當的電子儀器。
1.4 本標準只適用于手工探傷，不適用于自動化超聲探傷。
1.5 本標準只適用于包括一般接觸式超聲直探頭或斜探頭的系統(tǒng)，不適用于包括其他類型（例如雙晶式、水浸式等）超聲探頭的系統(tǒng)。
2術語定義
2.1 靈敏度余量：超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標準缺陷探測靈敏度與**探測靈敏度之間的差值。
2.2 分辨力：超聲探傷系統(tǒng)能夠把距探頭不同距離的兩個鄰近缺陷在示波屏上作為兩個回波區(qū)別出來的能力。
2.3 其它術語定義參照JB3111—82《無損檢測名詞術語》。
3測試項目
3.1 采用直探頭時：靈敏度余量、垂直線性、水平線性、分辨力及盲區(qū)，分別按照4、5、6、7、8各章進行測試。
3.2 采用斜探頭時：垂直線性、水平線性、入射點、折射角、分辨力及靈敏度余量，分別按照5、6、9、10、11、12各章進行測試。
3.3 根據設備使用情況，由使用單位或由供需雙方協(xié)商規(guī)定應測試的項目以及每儀測試的周期。
4靈敏度余量測試方法
4.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷系統(tǒng)靈敏度的變化情況，用靈敏度余量值表示。測試時使用DB—P20—2型試塊（見附錄A），探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值，**選取在隨后探傷工作中將使用的調整值。
4.2 方法
4.2.1 將儀表的增益調至**，但如電噪聲較大時，應降低增益（調節(jié)增益控制器或衰減器），使電噪聲電平降至10%滿刻度。設此時衰減器的讀數為So。
4.2.2 將探頭壓在試塊上，中間加適當的耦合劑，以保持穩(wěn)定的聲耦合調節(jié)衰減器，使平底孔回波高度降至50%滿刻度。設此時衰減器的讀數為S1。
4.2.3 超聲探傷系統(tǒng)的靈敏度余量（以dB表示）由下式給出。
S=S1-So………………………………………………………⑴
5垂直線性測試方法
5.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷儀增益線性和衰減器精度兩者的綜合效果。測試時使用DB—PZ20—2型或Z20—4型試塊（見附錄A），探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值。
5.2 方法
5.2.1 將探頭壓在試塊上，中間加適當的耦合劑，以保持穩(wěn)定的聲耦合；并將平底孔的回波調至屏幕上時基線的近中央處。
5.2.2 調節(jié)衰減器或探頭位置，使孔的回波高度恰為100%滿刻度，此時衰減器至少應有30dB的衰減余量.
5.2.3 以每次2dB的增量調節(jié)衰減，每次調節(jié)后用滿刻度的百分值記下回波幅度，一直繼續(xù)到衰減值為26dB，測量精度為0.1%。將測試結果列如表1。測試值與波高理論值之差為偏差值，從表中取**正偏差d（＋）和**負偏差d（－）的**值之和為垂直線性誤差d（以百分值計），它由式⑵給出
…………………………………………⑵
5.2.4 按5.2.3條的方法將衰減值增加到30dB，判定這時是否能清楚地確認回波的存在?；夭ǖ南闆r代表探傷系統(tǒng)的動態(tài)范圍。
表１ 垂直線性測試記錄
衰 減量 (dB) | 波高理論值 (%) | 測 試值 (%) | 偏 差 (%) | 回波的消失情況 |
0 | 100.0 | — | ||
2 | 79.4 | — | ||
4 | 63.1 | — | ||
6 | 50.1 | — | ||
8 | 39.8 | — | ||
10 | 31.6 | — | ||
12 | 25.1 | — | ||
14 | 20.0 | — | ||
16 | 15.8 | — | ||
18 | 12.5 | — | ||
20 | 10.0 | — | ||
22 | 7.9 | — | ||
24 | 6.3 | — | ||
26 | 5.0 | |||
30 |
6水平線性測試方法
6.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷系統(tǒng)的時基線性。測試時使用探傷面與底面平行而表面光滑的任何試塊，試塊的厚度原則上相當于探測聲程的1/5，采用任意的常用探頭。探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值。
6.2 方法
6.2.1 將探頭壓在試塊上，中間加適當的耦合劑，以保持穩(wěn)定的聲耦合。調節(jié)探傷儀器的增益和掃描控制器，使屏幕上顯示出第6次底波。
6.2.2 當底波B1和B6的幅度分別為50％滿刻度時，將它們的前沿分別對準刻度0和100（設水平全刻度為100格）。B1和B6的前沿位置在調整中如相互影響，則應反復進行調整。
圖1
6.2.3 再依次分別地將底波B2、B3、B4、B5調到50％滿刻度，并分別讀出底波B2、B3、B4、B5的前沿與刻度20、40、60、80的偏差α2 、α3、α4、α5（以格數計），然后取其中**的偏差值αmax 。見圖１中的B1～B6是分別調到同一幅度，而不是同時達到此幅度。水平線性誤差由式⑶給出：
%………………………………………⑶
7分辨力測試方法
7.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷系統(tǒng)的分辨力。測試時使用1號標準試塊（ZB Y232—84《超聲探傷用1號標準試塊技術條件》）或CSK—IA型試塊（見附錄B），探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值。
7.2 方法
7.2.1 將探頭壓在試塊上如圖2所示的位置，中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。調整儀器的增益并左右移動探頭，使來自A、B兩個面的回波幅度相等并約為20％～30％滿刻度，如圖3中h1。
圖2 圖3
7.2.2 調節(jié)衰減器：使A、B兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度，此時衰減器所釋放的dB數（等于用衰減器讀出的缺口深度h1/h2之值）即為以dB值表示的超聲探傷系統(tǒng)的分辨力X。
8盲區(qū)測試方法
8.1 概要
本測試是為了測定超聲探傷系統(tǒng)在規(guī)定探傷靈敏度下，從探傷表面至可探測缺陷的*小距離。測試時使用DZ—1型試塊（見附錄C）。探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，除靈敏度調節(jié)外，其它調整取適當值。
8.2 方法
8.2.1 調節(jié)超聲探傷儀靈敏度，使符合探傷規(guī)范的要求（作為參考，可以采用Φ20mm直探頭，并調整儀器靈敏度使來自DB—PZ20—2型或Z20—4型試塊的平底孔回波達50％滿刻度）。
8.2.2 將探頭壓在DZ—1型試塊上，中間加適當耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。選擇能夠分辨得開的*短探測距離的Φ2mm橫孔，并將孔的回波幅度調至大于50％滿刻度，如回波的前沿和始波后沿相交的波谷低于10％滿刻度，則此*短距離即為盲區(qū)。
9斜探頭入射點測試方法
9.1 概要
本測試是為了測定斜探頭聲束中心在入射探傷面上的位置（入射點）。測試時使用1號標準試塊（ZBY232）或CSK—IA試塊。
9.2 方法
9.2.1 將斜探頭壓在試塊上如圖4所示的位置，中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。使聲束朝向R100mm的曲面，并在探頭聲束軸線與試塊側面保持平行的情況下前后移動探頭，至曲面回波的幅度達到**。
9.2.2 讀出試塊上R100mm圓心標記線所對應的探頭側面刻度，此刻度位置即斜探頭的入射點，讀數應**到0.5mm。
圖 4
10 斜探頭折射角或K值的測試方法
10.1 概要
本測試是為了測定斜探頭聲束入射于探傷面時的折射角（）或斜探頭的K（K＝tg）的值。測試時使用1號標準試塊（ZBY232）或CSK—IA型試塊。
10.2 方法
10.2.1 根據斜探頭折射角的不同標稱值，把探頭壓在1號標準試塊上的不同位置（如圖5），中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。
a. 當折射角為34o～66o時，探頭放在圖5（a）的位置，使用Ф50mm孔的回波進行測定。
b. 當折射角為60o～75o時，探頭放在圖5（b）的位置，使用Ф50mm孔的回波進行測定。
圖 5
c. 當折射角為74o～80o時，探頭放在圖5（c）的位置，使用Ф1.5mm孔的回波進行測定。
在探頭聲束軸線與試塊側面保持平行的情況下前后移動探頭，使回波達到**。
10.2.2 讀出探頭入射點在試塊側面上所對應的角度刻度值，此刻度值即為斜探頭的折射角β，讀數應**到0.5度。
10.2.3 也可使用CSK—IA型試塊直接測定斜探頭的K值。將斜探頭壓在試塊上的不同位置，如圖5（a）和5（b），中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。
a. 當K值為1.0～1.5時，探頭放在圖5（a）的位置，使用Ф50mm孔的回波進行測定。
b. 當K值為2.0～3.0時，探頭放在圖5（b）的位置，使用Ф50mm孔的回波進行測定。
在探頭聲束軸線與試塊側面保持平行的情況下前后移動探頭，使回波達到**。從探頭入射點在試塊側面所對應的刻度值即可直接讀出斜探頭的K值。
11 斜探頭分辨力測試方法
11.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷系統(tǒng)（斜探頭）的分辨力。測試時使用CSK—IA型試塊，探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值。
11.2 方法
11.2.1 根據斜探頭的折射角或K值，將探頭壓在CSK—IA型試塊上，其位置如圖5（a）或5（b）所示，中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。移動探頭位置使來自Ф50mm和Ф44mm兩孔的回波A、B高度相等，并約為20％～30％滿刻度,如圖6中h1。
圖 6
11.2.2 調節(jié)衰減器，使A、B兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度，此時衰減器所釋放的dB數（等于用衰減器讀出的缺口深度h1／h2之值）即為以dB值表示的超聲探傷系統(tǒng)（斜探頭）分辨力Z。
12 斜探頭靈敏度余量測試方法
12.1 概要
本測試是為了檢查超聲探傷系統(tǒng)在經過一段使用時期后的靈敏度變化情況，以及在實際應用中表示不同斜探頭靈敏度的相對值。測試時使用1號標準試塊（ZBY232）或CSK—IA型試塊。探傷儀的抑制置于“0”或“斷”，其它調整取適當值。
12.2 方法
12.2.1 將超聲探傷儀的增益調至**；但如電噪聲較大時，應降低增益（調節(jié)增益控制器或衰減器）使電噪聲電平降至10％滿刻度，設此時衰減器的讀數為o。
12.2.2 將探頭壓在試塊上，位置如圖4所示，中間加適當的耦合劑以保持穩(wěn)定的聲耦合。調節(jié)衰減器使來自R100mm曲面的回波高度降至50％滿刻度。設此時衰減器的讀數為1。
12.2.3 斜探頭靈敏度余量（以dB表示）由下式給出：
＝1－o……………………………………………⑷
13 測試報告
在測試報告中，除應按要求的檢查內容記錄各個項目的測試結果外，還應同時記錄下列各項：
a. 探傷儀和探頭的制造廠名、型式和編寫；
b. 試塊的制造廠名、型式和編號；
c. 測試頻率；
d. 儀器上各控制器的調整值；
e. 測試操作者姓名；
f. 測試日期；
g. 事先規(guī)定需記錄的其它內容。
附錄A DB-P型試塊
（補充件）
A1形狀和尺寸
mm
型號DB—P | Z20—2 | Z20—4 |
l | 200 | 200 |
L | 225 | 225 |
D | 2 | 4 |
A2技術要求
a. 試塊材料采用45號**碳素結構鋼，主要化學成份應符合GB699—65《**碳素結構鋼鋼號和一般技術條件》規(guī)定；
b. 試塊坯料經鍛造和熱處理，晶粒度應達7級；
c. 試塊的探測面及側面，在2.5MHz以上頻率及高靈敏度條件下進行探傷，不得出現大于距探測面20mm處的Ф2mm平底孔反射回來的回波幅度1/4的缺陷回波。
附錄BCSK-ⅠA型試塊
（補充塊）
B1形狀和尺寸
尺寸公差±0.1
各邊不垂直度不大于0.05
B2技術要求
a. 試塊材料采用20號**碳素結構鋼，主要化學成份符合GB699的規(guī)定；
b. 試塊坯料經鍛造和熱處理，晶粒度應達7級；
c. 使用5MHz的直探頭，分別對試塊的前側面、后側面、頂面、底面進行**積的接觸法超聲波探傷，不得出現大于距探測面20mm處的Ф2mm反射回來的回波幅度1/4的缺陷回波。
附錄CDZ-Ⅰ型試塊
(補充件)
C1形狀和尺寸
C2技術要求
a. 試塊材料采用45號**碳素結構鋼,主要化學成份應符合GB699的規(guī)定；
b. 試塊坯料經鍛造和熱處理，晶粒度應達7級；
c. 試塊的探測面及側面，在2.5Mhz以上頻率及高靈敏度條件下進行探傷,不得出現于距深測面20mm處的Ф2mm反射回來的回波幅度1/4的缺陷回波。
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附加說明：
本標準由上海材料研究所提出并歸口。
本標準由上海材料研究所負責起草。
本標準主要起草人：曾克京
