珍珠珠層厚度無損檢測有重大突破

日期：2025-05-01 13:11

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摘要：

從廣西質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局獲悉，該局承擔(dān)的“X射線和近紅外光珍珠珠層厚度無損檢測儀研究與應(yīng)用”科技成果項目鑒定驗收會在廣西產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗院召開。此次項目驗收鑒定會由廣西科技廳組織，**有關(guān)方面的權(quán)威專家對項目進(jìn)行了審定。

　　據(jù)了解，該課題技術(shù)在珍珠檢測領(lǐng)域具有較高的**性。一是國內(nèi)**微焦斑（Φ＝8μm）X射線透射技術(shù)和CCD光電成像技術(shù)相結(jié)合，實時整體成像；二是珠層圖像自動甄別采集，根據(jù)灰度級差原理，自動由外向內(nèi)搜索（圖像由白到黑）之**梯度處視為珍珠核與珍珠層邊緣。三是用測量誤差理論*小二乘法圓度擬合，自動獲取*接近珠核與珠層平均圓，實現(xiàn)準(zhǔn)確和快速自動檢測；四是用計算機(jī)技術(shù)實現(xiàn)尺寸自動匹配，以消除點光源引起不同尺寸珍珠的投影與其真正直徑測量偏差的問題；五是研究出儀器的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，建立量傳溯源體系，確保測量準(zhǔn)確度；六是實現(xiàn)珍珠球體多截面測量；七是控制測量誤差，實現(xiàn)儀器測量準(zhǔn)確度≤0.02mm。

　　通過聽取匯報、質(zhì)疑和討論，專家形成了鑒定意見，參會專家一致認(rèn)為，該課題在**率先開展采用X射線和近紅外光學(xué)相干層析成像技術(shù)對珍珠進(jìn)行無損檢測綜合對比研究，并取得突破性進(jìn)展，成功研制出兩種珍珠無損檢測高精度新儀器，把先進(jìn)的測量理論成功轉(zhuǎn)化為具有廣泛應(yīng)用意義的技術(shù)**成果和測量儀器，屬于國內(nèi)**，技術(shù)水平達(dá)到國內(nèi)**，******。

　　目前該項目所研究的兩種無損檢測方法已被納入國家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)在**推廣應(yīng)用。對提高珍珠產(chǎn)品質(zhì)量，促進(jìn)廣西珍珠產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將具有深遠(yuǎn)的社會效益和經(jīng)濟(jì)效益。

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